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摘要:在Mie散射理論的基礎上推導了偏振比法微納顆粒檢測理論.該理論避免了檢測光路中氣體組分對顆粒測量的影響,實現了微納顆粒的準確測量.在檢測理論的基礎上建立了顆粒粒徑反演模型,并引入遺傳算法對偏振散射光信號進行分析.通過MATLAB仿真研究,獲得偏振比法顆粒粒徑測量范圍為0.1-0.5μm.對服從R-R分布的均勻球形顆粒群進行模擬仿真,通過加入隨機噪聲模擬實際測量時的外界干擾,根據反演結果對該方法的抗噪性和精度進行了評測。
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國際刊號:1004-1540
國內刊號:33-1147/C
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