摘要：將二硅化鉬發熱體安裝在氫氣氣氛電阻爐中,升溫至1350℃保溫6h后結束為1爐次,共使用5爐。然后截取使用后的二硅化鉬發熱體熱端,用掃描電子顯微鏡研究其顯微結構,用能譜分析儀進行區域元素分析,以剖析二硅化鉬發熱體在氫氣氣氛中使用的侵蝕機制。結果表明:在氫氣氣氛中使用時,二硅化鉬發熱體表面的保護膜首先被氫氣破壞且不能再生,進而發熱體中的硅酸鹽結合劑也被氫氣破壞并形成氫氣進一步侵蝕的通道,加速了氫氣與本體材料二硅化鉬的反應。二硅化鉬發熱體由于侵蝕變細、結構疏松并剝落,電阻過大、溫度過高而熔斷,從而導致其在氫氣氣氛中的使用壽命大大降低。